Stolní XRD difraktometr ARL X'TRA Companion v θ/θ Bragg-Brentano uspořádání. Robustní přístroj pro výzkum i kontrolu jakosti. Obsahuje možnost kvantifikace metodou Rietveld a napojení na laboratorní systém LIMS. Cu nebo Co volitelné jako materiál anody rentgenky vzhledem k aplikaci.
→ Podívejte se také na: XPS | prášková reologie | termická analýza