Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia – prednáška
Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS) je jednou z najkomplexnejších techník na charakterizáciu povrchov. Pri XPS metóde je možné okrem elementárnej analýzy povrchu určiť aj funkčné skupiny na základe chemických posunov. Hĺbka z ktorej sa detekujú elektróny je niekoľko nanometrov (2-10 nm), čo zaručuje, že získané informácie sú výhradne o chemickom zložení povrchu.
Prednáška predstaví princíp XPS a na konkrétnych príkladoch aj využitie, výhody a limity tejto metódy.
Záujemci po skončení prednášky budú mať možnosť navštíviť Vedecké a demonštračné laboratórium Ústavu polymérov SAV vytvorené v spolupráci s Thermo Fisher Scientific a Pragolabom...
Nenechte si ujít další zajímavosti
- Orbitrap Astral - hvězdný hmotnostní spektrometr
- Analyzátory pro přesný a kvalitní monitoring kvality vzduchu
- Bateriové cyklery a potenciostaty ve vědě i ve výrobě
- Orbitrap Astral – nová technologie, která Vás nutí přehodnotit, co vše je možné
- Analýza stopových prvků v rafinérských produktech pomocí robustního ICP-MS