Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia – prednáška
Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS) je jednou z najkomplexnejších techník na charakterizáciu povrchov. Pri XPS metóde je možné okrem elementárnej analýzy povrchu určiť aj funkčné skupiny na základe chemických posunov. Hĺbka z ktorej sa detekujú elektróny je niekoľko nanometrov (2-10 nm), čo zaručuje, že získané informácie sú výhradne o chemickom zložení povrchu.
Prednáška predstaví princíp XPS a na konkrétnych príkladoch aj využitie, výhody a limity tejto metódy.
Záujemci po skončení prednášky budú mať možnosť navštíviť Vedecké a demonštračné laboratórium Ústavu polymérov SAV vytvorené v spolupráci s Thermo Fisher Scientific a Pragolabom...
Nenechte si ujít další zajímavosti
- Thermo Scientific Stellar - revoluční hmotnostní spektrometr
- Představujeme: Revoluční platforma iontových chromatografů Thermo Scientific™ Dionex™ Inuvion™ z pohledu aplikací!
- Thermo Scientific Dionex Inuvion – nová úchvatná platforma iontových chromatografů
- UVIDĚT ZNAMENÁ UVĚŘIT – NOVÁ PŘIDANÁ INFORMACE K VÝSLEDKŮM TERMICKÉ A MECHANICKÉ ANALÝZY
- Analýza neutrálních i iontových PFAS v ovzduší pomocí termické desorpce ve spojení s plynovou chromatografií a hmotnostní spektrometrií (TD-GC-MS/MS).