Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia – prednáška
Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS) je jednou z najkomplexnejších techník na charakterizáciu povrchov. Pri XPS metóde je možné okrem elementárnej analýzy povrchu určiť aj funkčné skupiny na základe chemických posunov. Hĺbka z ktorej sa detekujú elektróny je niekoľko nanometrov (2-10 nm), čo zaručuje, že získané informácie sú výhradne o chemickom zložení povrchu.
Prednáška predstaví princíp XPS a na konkrétnych príkladoch aj využitie, výhody a limity tejto metódy.
Záujemci po skončení prednášky budú mať možnosť navštíviť Vedecké a demonštračné laboratórium Ústavu polymérov SAV vytvorené v spolupráci s Thermo Fisher Scientific a Pragolabom...
Nenechte si ujít další zajímavosti
- HPLC a UHPLC VAnqiush – posuňte se za hranice dnešní doby
- Proč právě rotační vakuové koncentrátory
- Charlie Chromeleon v novém kabátě – nejrozšířenější chromatografický software Chromeleon bere dech ve verzi 7.3.2
- Nové automatické spektrometry Gallery Aqua Master a Gallery Plus Aqua Master
- Screening a identifikace látek v plastových materiálech přicházejících do styku s potravinami pomocí hmotnostního spektrometru Orbitrap Exploris GC 240