Zdokonalený XPS spektrometr

Vědci, inženýři i technologové hledající možnosti pro rychlou analýzu povrchů s vědecko-výzkumnými parametry, mohou nyní použít nový instrument speciálně navržený pro multiuživatelské využití metody rentgenové fotoelektronové spektroskopie – XPS/ESCA.

XPS spektrometr K-Alpha od Thermo Scientific byl v době svého uvedení oceněn cenou za inovativnost '2007 R&D 100'. Nyní je uváděn v provedení K-Alpha+, po rozšíření o PLUS detekční technologii, která umožňuje další zvýšení analytické výkonnosti, možnost identifikace složek při nízkých koncentracích a rychlejší rozlišení chemických stavů. Kompaktní, vysoce automatizovaný XPS spektrometr nabízí cenově efektivní metodu analýzy a studia povrchů kovů, polymerů, vláken, prášků, kompozitů a mnoha dalších typů materiálů a pevných vzorků.

'Věříme, že K-Alpha přináší možnost analýzy povrchů na vědecké úrovni i do neakademických laboratoří a více uživatelům' uvádí Kevin Fairfax, generální manažer sekce 'Nanoscale material analysis', Thermo Fisher Scientific.

Rozšířené vlastnosti spektrometru K-Alpha+ včetně patentovaného, automatizovaného duálního systému kompenzace povrchového náboje, umožňují i analýzu a hloubkové profilování nevodivých vzorků, jako jsou polymery, práškové vzorky a vlákna. Datový systém Avantage, nyní společný pro všechny modely XPS spektrometrů Thermo Scientific, zajišťuje plnou počítačovou podporu všech funkcí spektrometru, řízení instrumentu, sběr dat, jejich zpracování, interpretaci a vytváření reportů. Navíc K-Alpha+ nabízí další rozšíření o volitelný systém MAGCIS, duální zdroj argonových iontů a iontů argonových klastrů, novou technologii pro profilování 'měkkých' a citlivých typů vzorků.

Tyto vlastnosti umožňují spektrometru K-Alpha udržovat dominantního postavení nejrozšířenějšího XPS spektrometru a postavení 'stálice' a první volby všude tam, kde je požadována nejvyšší kvalita a vysoký výkon se zachováním efektivních nákladů.