XPS a Raman

26.6.2017

Integrace více analytických technik od jednoho výrobce do jednoho optimalizovaného přístrojového spojení, poskytuje v porovnání s jinými řešeními, nepopíratelné výhody, plynoucí z dokonalého zvládnutí požadavků jednotlivých metod a využití potenciálu všech komponent multitechnického přístroje. Po integraci XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) s EDS mikrosondou (ve spektrometru Escalab Xi + ), Thermo Scientific™ přichází s další novinkou, integrací XPS a Ramanova spektrometru. 

XPS a Ramanova spektroskopie jsou dvě populární analytické techniky poskytující užitečné informace o studovaných materiálech. Synergie vyplývající z integrace těchto dvou technik je nyní dostupná v unikátním spojení vysokorozlišovacího XPS spektrometru Theta Probe s integrovaným Ramanovým spektrometrem. Integrace XPS a Ramanovy spektrometrie umožňuje získávat materiálové informace o vzorku z jednoho bodu, se všemi výhodami, které obě metody a oba instrumenty poskytují.

Příklad využití tohoto unikátního spojení XPS a Ramanova spektrometru demonstruje nová aplikační poznámka Thermo Scientific™ “Advantages of coincident XPS-Raman in the analysis of mineral oxides species” (AN52950, Jon Treacy, Thermo Fisher Scientific, East Grinstead, Great Britain and Robert Heintz, Thermo Fisher Scientific, Madison, USA , 2017 ).

Obr. 1: Aplikační poznámka Thermo Scientific™ AN52950

Obr. 1: Aplikační poznámka Thermo Scientific™ AN52950

Obr. 2: ARXPS spektrometr Theta Probe s integrovaným Ramanovým spektrometrem

Obr. 2: ARXPS spektrometr Theta Probe s integrovaným Ramanovým spektrometrem

Aplikace AN52950, popisuje analýzu uhličitanu vápenatého (CaCO 3) a oxidu titaničitého (TiO 2). Obě sloučeniny se mohou nacházet v řadě krystalických forem, které mohou být snadno rozlišeny pomocí Ramanovy spektroskopie, avšak určení složení, kvantifikace, přítomnost příměsí a složení přírodních vzorků, je pro Ramanovu spektroskopii obtížné. Tento nedostatek může být naopak snadno a efektivně řešen pomocí XPS. Na následujících obrázcích jsou ukázána XPS spektra aragonitu a kalcitu a odpovídající Ramanova spektra sejmutá ze stejné pozice vzorků.

Obr. 3: Přehledová XPS spektra Aragonitu a Kalcitu po nízkoenergetickém očištění povrchu argonovými klastry

Obr. 3: Přehledová XPS spektra Aragonitu a Kalcitu po nízkoenergetickém očištění povrchu argonovými klastry

Obr. 4: Porovnání Ramanových spekter CaCO3 krystalů Aragonitu a Kalcitu

Obr. 4: Porovnání Ramanových spekter CaCO3 krystalů Aragonitu a Kalcitu

XPS spektra ukazují složení materiálu na povrchu sledovaných vzorků. Komplementární Ramanova spektra ukazují rozdíly reflektující odlišnosti ve struktuře dvou materiálů. To otevírá cestu k možnosti charakterizovat směsný vzorek nebo vytvořit materiál s konkrétními vlastnostmi s jistotou, že obě techniky poskytují data a charakterizují stejnou pozici vzorku měřenou oběma technikami.

Pro podrobný popis XPS spektrometru Theta Probe a další podrobnosti o XPS instrumentaci od Thermo Scientific™, navštivte oficiální webovou stránku výrobce XPS-simplified nebo kontaktujte odborné prodejce oficiálního distributora pro Českou a Slovenskou republiku, Pragolab, s.r.o.