Escalab Xi+

O produktu

Vědecký, multitechnický XPS/ESCA Escalab Xi+, je nejnovější inovací populárního XPS spektrometru ESCALAB 250. XPS spektrometr Escalab Xi+ je špičkové, vysoce výkonné, multifunkční zařízení pro studium povrchů a povrchových filmů metodami XPS.

Umožňuje paralelní XPS zobrazování povrchů s rozlišením pod 3 mm, v módu AES pod 95 nm. Mimo metodu XPS spektrometr Escalab ve standardní konfiguraci umožňuje i měření metodami ISS (Ion Scattering Spectroscopy), Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS). Standardně spektrometr umožňuje též automatizovanou úhlově rozlišenou XPS (ARXPS), „mapping“ a „imaging“, je vybaven duální kompenzací náboje a možností hloubkového profilování odprašováním argonovými ionty, volitelně argonovými klastry (MAGCIS). Může být doplněn další přípravnou komorou, systémy pro chlazení a ohřev vzorku a dalšími. Zařízení umožňuje též konfigurace zahrnující metody AES/SEM/SAM ( Auger Electron Spectroscopy/Secondary Electron Microscopy/Scanning Auger Microscopy), automatizovanou UPS (Ultraviolet Photoemission Spectroscopy). Unikátním příslušenstvím je volitelně možnost rentgenové mikroanalýzy integrovaným EDS detektorem se systémem Noran 7 (Thermo Scientific). Všechny funkce přístroje jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base.